Thermal Oxidation
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Thermal Oxidation 방식 : Wet (1,000Å-수십um), Dry(500Å- 3,000Å), Clean Oxide(500Å- 1um)
Uniformity
In-Wafer : 2%이내 (HCl 을 사용하는 Clean Oxide는 1%이내 관리)
Wafer to Wafer : 3%이내 관리
사용 가능 Wafer Size 및 Min수량 : 4" ,5", 6", 8" ( 4"~8" Min 25장)
Delivery
1주일이내 (필요하신 두께에 따라 조금씩 차이가 있습니다.)
Certification Sheet 제공 , Air Zero Packing
Process Flow Chart
Wafer appearance check → Clean before process(H2SO4 boil , SC1 ,SC2 , DI 17MΩ/cm2) → Thermal Oxidation → Thickness Monitor and Uniformity Check → Air Zero Packing
SiO2 Property
Property (Units) Value Property (Units) Value
Density (g/cm3) 2.27 Melting point (℃) =1700
Dielectric Constant 3.9 Molecular Weight 60.08
DC resistivity@250℃ 10E16 Molecules/cm3 2.3 x 10E22
Energy gap (ev) =9 Specific heat (J/g℃) 1.0 (J/g℃)
Thermal Conductivity (W/cm2℃) 0.014 Film Stress @25℃ 2-4 x 10E18 dyne/cm2
Linear expansion (ppm/℃) 0.05 IR absorption peak (mm) 9.3
Refractive index 1.46 Etch rate BHF(49%) nm/min 100 (nm/min)

SiO2 Thickness 별 Color

* 모니터 해상도에 따라 색상의 차이가 있을 수 있습니다.

Film Thickness (Å) Color Film Thickness (Å) Color
1,000 Dark violet to red violet 7,200 Blue green to green (quite broad)
2,000 Light gold or yellow ; slightly metallic 8,000 Orange
(rather broad for orange)
3,000 Blue to violet blue 9,200 Blue green
4,100 Light orange 1um Carnation pink
5,000 Blue green 1.21um Violet red
6,000 Carnation pink 1.5um Blue

Thickness 측정 방법
한 캐리어의 25장 중 #1, #5, #10, #15, #20, #25번을 각 장마다 Top, Bottom, Left, Right, Center 5포인트 측정을 원칙으로 합니다.
* In-Wafer
: 2%이내 (HCl 을 사용하는 Clean Oxide는 1% 이내 관리,Wafer to Wafer : 3%이내를 기준으로 하고 있습니다.
* 한 웨이퍼의 평균 두께치 (Å)
= C의두께+T의두께+B의두께+L의두께+R의두께 / 5
* 한 웨이퍼의 Uniformity (%)
= (C,T,B,L,R중 최대치 두께-최저치 두께/ 2 x 한 웨이퍼 의 평균 두께치)x100